DIN EN 62374:2008-02
Current
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SEMICONDUCTOR DEVICES - TIME DEPENDENT DIELECTRIC BREAKDOWN (TDDB) TEST FOR GATE DIELECTRIC FILMS
Hardcopy , PDF
German
01-01-2008
Festgelegt sind in dieser Norm sowohl ein Prüf- und Messverfahren zum zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB; en: time dependent dielectric breakdown) bei dielektrischen Gate-Schichten von Halbleiterbauelementen als auch ein Verfahren zum Abschätzen der Bauelementelebensdauer bezogen auf TDDB-Ausfälle.
| DevelopmentNote |
Supersedes DIN IEC 62374. (02/2008)
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| DocumentType |
Standard
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| Pages |
24
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| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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| Status |
Current
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| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| EN 62374:2007 | Identical |
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