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NF EN 60512-25-3 : 2002

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The latest, up-to-date edition.

CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - TESTS AND MEASUREMENT - PART 25-3: TEST 25C: RISE TIME DEGRADATION

Published date

12-01-2013

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AVANT-PROPOS
1 Généralités
  1.1 Domaine d'application et objet
  1.2 Définitions
2 Moyens d'essai
  2.1 Equipement
  2.2 Montage
3 Echantillon d'essai
  3.1 Description
4 Procédure d'essai
  4.1 Technique d'insertion
  4.2 Technique du montage de référence
  4.3 Calcul de la dégradation du temps de montée
5 Détails à spécifier
6 Documentation d'essai
Annexe A (normative) Diagrammes et schémas pour les montages
         et l'équipement
Annexe B (informative) Guide pratique
Figure 1 - Forme d'onde
Figure A.1 - Diagrammes techniques
Figure A.2 - Adaptations asymétriques
Figure A.3 - Adaptations différentielles (symétriques)

Specifies a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.

DevelopmentNote
Indice de classement: C93-400-25-3 (07/2002)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Current

Standards Relationship
DIN EN 60512-25-3:2002-08 Identical
BS EN 60512-25-3:2001 Identical
EN 60512-25-3:2001 Identical
I.S. EN 60512-25-3:2001 Identical
UNE-EN 60512-25-3:2002 Identical
IEC 60512-25-3:2001 Identical

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