NF EN 61967-2 : 2006

AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Généralités
5 Conditions d'essai
   5.1 Généralités
   5.2 Tension d'alimentation
   5.3 Gamme de fréquences
6 Equipement d'essai
   6.1 Généralités
   6.2 Blindage
   6.3 Appareil de mesure RF
   6.4 Préamplificateur
   6.5 Cellule TEM
   6.6 Cellule TEM/GTEM à large bande
   6.7 Terminaison de 50 oméga
   6.8 Gain du système
7 Montage d'essai
   7.1 Généralités
   7.2 Configuration d'essai
   7.3 PCB d'essai
8 Procédure d'essai
   8.1 Généralités
   8.2 Conditions ambiantes
   8.3 Vérification opérationnelle du DEE
   8.4 Mesure des émissions du DEE
9 Rapport d'essai
   9.1 Généralités
   9.2 Conditions de mesure
10 Niveaux de référence des émissions du CI
Annexe A (informative) Exemple de formulaire de vérification
                       de l'étalonnage et du montage
Annexe B (informative) Descriptions de la cellule TEM et de
                       la cellule TEM à large bande
   B.1 Cellule TEM
   B.2 Cellule TEM à large bande
Annexe C (informative) Calcul du moment de dipole à partir
                       des données mesurées
   C.1 Généralités
   C.2 Calcul du moment de dipole
Annexe D (informative) Spécification des données d'émission
   D.1 Généralités
   D.2 Spécification des niveaux d'émission
   D.3 Présentation des résultats
   D.4 Exemples
Annexe ZA (normative) Références normatives â d'autres
                      publications internationales avec
                      les publications européennes
                      correspondantes
Bibliographie
Figure 1 - Montage d'essai de la cellule TEM
Figure 2 - Montage d'essai de la cellule GTEM
Figure 3 - Carte de circuit imprimé d'essai de CI
Figure D.1 - Niveaux de caractérisation des émissions
Figure D.2 - Niveau maximal d'émissions G8f
Tableau 1 - Recommandations des charges de broches

Describes a method for measuring the electromagnetic radiation from an integrated circuit (IC).