CEI CLC/TS 50217 : 2006
Superseded
GUIDA PER LE MISURE IN SITU - MISURA IN SITU DELL'EMISSIONE DI DISTURBI
Hardcopy , PDF
English - Italian
01-01-2006
09-01-2014
FASC 8148 La presente Specifica Tecnica si propone di indicare linee guida per l'analisi dell'emissione di disturbi in situ allo scopo di identificare le sorgenti e di risolvere eventuali problemi di reclami. Il campo di frequenze di interesse è dalla corrente continua a 400 GHz. I criteri di analisi, essenzialmente basati su documenti IEC e CENELEC già disponibili, sono particolarmente utili per gli impianti fissi. La presente Specifica Tecnica riporta il testo in inglese e italiano della CLC/TS 50217; rispetto al precedente fascicolo n. 8034E di dicembre 2005, essa contiene la traduzione completa della EN sopra indicata.
| Committee |
CT 210
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| DevelopmentNote |
Classificazione CEI 210-83. (03/2006)
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| DocumentType |
Standard
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| Pages |
78
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| PublisherName |
Comitato Elettrotecnico Italiano
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| Status |
Superseded
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| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| CLC/TS 50217:2005 | Identical |
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