DIN CEN/TS 15605:2008-02

Vorwort
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Kurzbeschreibung
4 Reagenzien und Stoffe
5 Gerät
   5.1 Übliche Laboratoriumsausstattung
6 Probenahme
7 Durchführung
   7.1 Verfahren A: Kupfer
   7.2 Verfahren B: Kupfer-Zink-Legierungen
   7.3 Verfahren C: Kupfer-Zinn-Legierungen
   7.4 Verfahren D: Kupfer-Aluminium-Legierungen
   7.5 Verfahren E: Kupfer-Beryllium-Legierungen
   7.6 Verfahren F: Kupfer-Nickel-Legierungen
   7.7 Verfahren G: Kupfer-Blei-Zinn-Legierung
8 Angabe der Ergebnisse
9 Präzision
   9.1 Verfahren B - Kupfer-Zink-Legierungen
   9.2 Verfahren C - Kupfer-Zinn-Legierungen
   9.3 Verfahren D - Kupfer-Aluminium Legierungen
   9.4 Verfahren F - Kupfer-Nickel-Legierungen
   9.5 Verfahren G - Kupfer-Blei-Zinn-Legierung
10 Prüfbericht
Anhang A (informativ) Optisches Emissionsspektrometer (OES) - Zur
                      Überprüfung vorgeschlagene Leistungskriterien
Literaturhinweise

Dieses Dokument legt sieben Verfahren (A bis G) zur optischen Emissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppelter Plasmaanregung für die Analyse von Legierungselementen und Verunreinigungen in Kupfer und Kupferlegierungen fest, die als Gussstücke oder als plastisch oder nicht plastisch geformte Produkte vorliegen. ANMERKUNG 1 Die festgelegten Bereiche für jedes Verfahren können ausgeweitet oder angepasst werden, für die Analyse niedrigerer Massenanteile.