DIN IEC 62415:2008-05 (Draft)
Superseded
Superseded
View Superseded by
CONSTANT CURRENT ELECTROMIGRATION TEST
Published date
01-12-2013
Superseded date
12-01-2010
Superseded by
Sorry this product is not available in your region.
In dieser Norm wird ein Verfahren für das gebräuchliche Prüfen auf Elektromigration von metallischen Leitern, Vias und Kontakten beschrieben.
| DocumentType |
Draft
|
| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
|
| Status |
Superseded
|
| SupersededBy |
Summarise
Sorry this product is not available in your region.