NF ISO 17470 : 2006
Withdrawn
MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR QUALITATIVE POINT ANALYSIS BY WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRY
01-12-2013
08-30-2014
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Termes abrégés
5 Appareillage
6 Procédure d'identification
6.1 Généralités
6.2 Définition des conditions d'analyse
6.3 Méthode d'analyse d'un spectre de rayons X
6.4 Limite de détection
7 Rapport d'essai
Annexe A (informative) Exemple de procès-verbal
d'analyse qualitative par microsonde
de Castaing
Bibliographie
La présente Norme Internationale donne des recommandations pour l'identification des éléments et la recherche d'éléments particuliers présents dans un volume micrométrique spécifique d'un échantillon, par l'analyse des spectres de rayons X obtenus en utilisant des spectromètres à dispersion de longueur d'onde montés sur une microsonde de Castaing ou sur un microscope électronique à balayage.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: X21-003 PR NF ISO 17470 April 2006. (04/2006)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Withdrawn
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| Standards | Relationship |
| ISO 17470:2014 | Identical |
| NF ISO 22489 : 2007 | MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - QUANTITATIVE POINT ANALYSIS FOR BULK SPECIMENS USING WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY |
| NF ISO 14594 : 2007 | MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR THE DETERMINATION OF EXPERIMENTAL PARAMETERS FOR WAVELENGTH DISPERSIVE SPECTROSCOPY |