DIN EN 190100:1995-02
Current
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SECTIONAL SPECIFICATION: DIGITAL MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS
Hardcopy , PDF
German
01-01-1995
1 Anwendungsbereich
2 Allgemeines
2.1 Bezugsschriftstücke
2.2 Vorzugsspannungen für digitale monolithische
Integrierte Schaltungen
2.3 Symbole und Terminologie
3 Gütebestätigungsverfahren
3.1 Strukturell ähnliche Schaltungen (siehe CECC
90 000, Abschnitt 3.2)
3.2 Bestätigte Prüfberichte
4 Prüf- und Messverfahren
4.1 Elektrische Messverfahren (siehe CECC
90 000, Abschnitte 4.1 und 4.5)
4.1.1 Funktionsprüfung
4.1.2 Messung von statischen Kennwerten
4.1.3 Messung von dynamischen Kennwerten
4.1.4 Ausgangs-Kurzschlussstrom
4.1.5 Durchbruchsspannung
4.1.6 Stromaufnahme
4.1.7 Kapazität
4.1.8 Leckstrom
4.1.9 ESD-Prüfung
4.1.10 Eingangsklemmspannung
4.2 Elektrische Lebensdauerprüfung
4.2.1 Allgemeines
4.2.2 Prüfbedingungen
5 Bauartspezifikation für digitale monolithische
Integrierte Schaltungen
5.1 Einleitung
5.2 Deckblatt
5.3 Kennzeichnung des Bauelementes und zusätzliche
Angaben
5.4 Prüfanforderungen
5.4.1 Erläuterung zu den Gütebestätigungsstufen
P, Y und L
5.4.2 Abkürzungen
5.4.3 Prüfungen - Gruppe A
5.4.4 Prüfungen - Gruppe B
5.4.4 Prüfungen - Gruppe C
5.4.6 Prüfungen - Gruppe D
5.5 Anforderungen an die Untergruppen A3, A4 und A5
5.5.1 Anforderungen für TTL-Schaltungen
(fortgesetzt)
5.5.2 Anforderungen an CMOS-Schaltungen
Gives ratings, characteristics and inspection requirements to be included as mandatory requirements in accordance with BS CECC 90100 in any detail specification for these devices.
| DevelopmentNote |
Supersedes DIN 45940-11 (07/2002)
|
| DocumentType |
Standard
|
| Pages |
56
|
| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
|
| Status |
Current
|
| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| BS EN 190100:1993 | Identical |
| EN 190100:1993 | Identical |
| NEN EN 190100 : 2005 | Identical |
| DIN IEC 60748-1:1988-01 | SEMICONDUCTOR DEVICES; INTEGRATED CIRCUITS; PART 1: GENERAL |
| DIN IEC 60068-2-30:1986-09 | ELECTRICAL ENGINEERING - BASIC ENVIRONMENTAL TESTING PROCEDURES - TEST DB AND GUIDANCE - DAMP HEAT, CYCLIC (12 + 12 HOUR CYCLE) |
| DIN 41791-4:1974-03 | SEMICONDUCTOR DEVICES FOR TELECOMMUNICATION; RECOMMENDATIONS FOR DATA SHEETS, LOW POWER SIGNAL TRANSISTORS |
| DIN IEC 60747-10:1987-10 | SEMICONDUCTOR DEVICES; GENERIC SPECIFICATION FOR SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS |
| DIN 40900-12:1992-09 | GRAPHICAL SYMBOLS FOR DIAGRAMS; BINARY LOGIC ELEMENTS |
| DIN IEC 60748-2:1990-11 | SEMICONDUCTOR DEVICES; INTEGRATE CIRCUITS; PART 2: DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS |
| DIN 41785-3:1975-02 | SEMICONDUCTOR DEVICES - LETTER SYMBOLS FOR DATA SHEETS FOR POWER SEMICONDUCTOR DEVICES |
| DIN IEC 60747-1:1987-03 | SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL |
| DIN 41791-6:1976-06 | SEMICONDUCTOR DEVICES FOR TELECOMMUNICATION; RECOMMENDATIONS FOR DATA SHEETS, SWITCHING TRANSISTORS |
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