NF EN 62132-5 : 2006

AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Généralités
  4.1 Applicabilité
  4.2 Philosophie de la mesure
  4.3 Montage d'essai de base
  4.4 Concept du banc de travail
5 Conditions d'essai
6 Equipement d'essai
7 Montage d'essai
  7.1 Généralités
  7.2 Blindage et champs ambiants
  7.3 Montage du banc de travail
  7.4 Connexions à la carte d'essai
  7.5 Points en mode commun
  7.6 Cage de Faraday sur banc de travail - Application
      pratique
  7.7 Carte d'essai
8 Procédure d'essai
  8.1 Généralités
  8.2 Exigences pour l'essai de la cage de Faraday sur banc
      de travail
9 Rapport d'essai
Annexe A (normative) Spécification particulière de la cage
         de Faraday sur banc de travail (WBFC)
Annexe B (informative) Théorie de la méthode sur banc de
         travail
Annexe C (informative) Impédances en mode commun
Annexe D (informative) Niveaux d'immunité RF
Bibliographie
Figure 1 - Méthode de mesure de l'immunité conduite -
              Montage général
Figure 2 - Montage pour les essais d'immunité RF à l'aide
              de la méthode de la cage de Faraday sur
              banc de travail
Figure 3 - Influence du nombre choisi de points en mode
              commun
Figure 4 - Position des points en mode commun
Figure A.1 - Dessin mécanique de la cage de Faraday sur banc
              de travail
Figure A.2 - Dessin mécanique du banc de travail - Couvercle
Figure A.3 - Filtre de traversée passe-bas
Figure A.4 - Exemple de construction du réseau de 150 oméga
Figure A.5 - Exemple d'impédance mesurée du réseau de 150
              oméga
Figure A.6 - Jig d'étalonnage métallique pour les mesures
              d'impédance en mode commun
Figure B.1 - Modèle de constantes localisées de cage de
              la Faraday sur banc de travail
Tableau C.1 - Valeurs statistiques de résistances au
              rayonnement mesurées sur des câbles longs
Tableau C.2 - Paramètres d'impédance en mode commun des RCD
Tableau D.1 - Niveaux d'essai pour l'immunité

Specifies a measurement method to quantify the RF immunity of integrated circuits (ICs) mounted on a standardized test board or on their final application board (PCB), to electromagnetic conductive disturbances.