NF ISO 15632 : 2012
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MICROBEAM ANALYSIS - SELECTED INSTRUMENTAL PERFORMANCE PARAMETERS FOR THE SPECIFICATION AND CHECKING OF ENERGY-DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETERS FOR USE IN ELECTRON PROBE MICROANALYSIS
12-01-2013
La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale s'applique uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale définit les exigences minimales pour de tels spectromètres reliés à un microanalyseur à sonde électronique (EPMA) ou à un microscope électronique à balayage (MEB). La réalisation de l'analyse se situe en dehors de la portée de la présente Norme internationale.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: X21-008. PR NF ISO 15632 May 2006. (05/2006) PR NF ISO 15632 September 2011. (09/2011)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Current
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| Standards | Relationship |
| ISO 15632:2012 | Identical |