NF EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2013
Current
The latest, up-to-date edition.
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Appareillage
4.1 Générateur de forme de DES du MM
4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde
5 Exigences de forme d'onde de courant du MM
5.1 Généralités
5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde
6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique
des dispositifs
6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai
6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de
qualification standard
7 Procédure de classification
7.1 Exigence pour les dispositifs
7.2 Sélection des dispositifs
7.3 Caractérisation des dispositifs
7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs
7.5 Combinaisons de broches
7.6 Ordre des essais
8 Critères de défaillance
9 Critères de classification
10 Résumé
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
publications internationales avec les publications
européennes correspondantes
Describes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).
| DevelopmentNote |
Indice de classement: C96-022-27 PR NF EN 60749-27 April 2005 (04/2005)
|
| DocumentType |
Standard
|
| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
|
| Status |
Current
|
| Standards | Relationship |
| DIN EN 60749-27:2013-04 | Identical |
| IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV | Identical |
| EN 60749-27:2006/A1:2012 | Identical |
| I.S. EN 60749-27:2006 | Identical |
| BS EN 60749-27 : 2006 | Identical |