NF EN 60749-35 : 2006
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 35: ACOUSTIC MICROSCOPY FOR PLASTIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Termes et définitions
3 Appareillage d'essai
3.1 Système de microscope acoustique à réflexion
3.2 Système de microscope acoustique par transmission
3.3 Boîtiers ou normes de référence
3.4 Porte-échantillon
4 Procédure
4.1 Généralités
4.2 Montage du matériel
4.3 Performance des balayages acoustiques
Annexe A (informative) Feuille de controle de microscopie
acoustique (exemple uniquement - n'est pas un
modèle obligatoire)
Annexe B (informative) Pièges potentiels de l'image
Annexe C (informative) Limitations de la microscopie
acoustique
Annexe D (informative) Liste de controle de référence
pour la présentation des données balayées
applicables
Bibliographie
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